馬爾測量進展MarSurf M400粗糙度儀
Mahr MarSurf M400代表了Mahr在表面測量方面的進展。快速，簡單和創新的設備具有無刷跟蹤和自動設置為零。該設備可用作緊湊型測量站或移動單元，非常適合生產，車間以及測量室。無刷探頭BFW 250可實現無縫跟蹤。結合SD 26驅動單元可以準確測量和評估粗糙度深度，波紋度和輪廓標準。

產品型號：
廠商性質：代理商
更新時間：2017-07-13
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馬爾測量進展MarSurf M400粗糙度儀

Mahr MarSurf M400代表了Mahr在表面測量方面的進展。快速，簡單和創新的設備具有無刷跟蹤和自動設置為零。該設備可用作緊湊型測量站或移動單元，非常適合生產，車間以及測量室。無刷探頭BFW 250可實現無縫跟蹤。結合SD 26驅動單元可以準確測量和評估粗糙度深度，波紋度和輪廓標準。通過電動高度調節可實現自動定位和提升探頭。不用使用任何工具就可以通過磁性探頭臂支架快速輕松地更換各種探針臂。像MarSurf M 300一樣，該設備提供無線操作及其藍牙功能。

MarSurf M 400.的移動設備
測量室以及生產領域都越來越需要無導塊掃描的表面評估。
這通常需要更熟練的操作員，更多時間和更多調整工作。
MarSurf M 400 在“移動表面度量”范圍內提供了必要的功能，而且快速、簡單易用。

移動和固定測量儀器
粗糙度和波紋度測量
掃描長度高達 26 mm
超過 50 R，W 和 P 表面參數
根據標準自動選擇截止和掃描長度
動態校準功能
驅動裝置和評估儀器之間可選有線和藍牙連接 (4 m)
磁性測頭支架（獨立測頭）BFW 250
機動測頭歸零設置（zui大 7.5 mm）

?技術參數：

測量原則	探針法
輸入	BFW 無導塊系統
測量范圍 mm	+/- 250 µm（高達 +/- 750 µm，3x 測桿長度）
輪廓分辨率	測量范圍 +/- 250 µm：8 nm 測量范圍 +/- 25 µm：0.8 nm
過濾器符合 ISO/JIS 標準	ISO 11562 標準高斯濾波 ISO 13565 標準濾波
采樣長度數量符合 ISO/JIS	1-5
接觸速度	0,2 mm/s; 1,0 mm/s
測量力 (N)	0.75 mN
重量驅動單元	約 0.9 kg
重量測量儀	約 1.0 kg
表面參數	超過 50 種符合當前 ISO / JIS 或 MOTIF (ISO 12085) 標準的表面參數可用于 R-、P- 和 W 輪廓