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用于質量控制的庫侖法鍍層厚度測量儀
產品型號：COULOSCOPE CMS2 STEP廠商性質：代理商更新時間：2025-05-27訪 問 量：3418
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聯系電話：021-58951071
高精度測量：運用庫侖法，實現多層金屬鍍層厚度的高精度測量。
標準合規：依據 DIN EN ISO 2177 標準開展測量工作。
操作便捷：通過彩色顯示屏與圖形化用戶指南，操作直觀易懂。
參數可調：可靈活選擇電解速度（0.1 - 50 微米 / 分鐘）和電解面積（0.6 - 3.2mm）。
預設應用豐富：針對不同鍍層系統，如鐵上鍍鋅、黃銅上鍍鎳等，預設近 100 種測量應用。
數據可視化：測量單元上實時顯示電壓曲線圖形。
評估全面：支持圖形化與統計化評估。
自動化適配：帶支撐架的部分自動化測量，適配各類樣品尺寸。
配件齊全：配備全面的配件組合，滿足特定需求。
同步測量：可同時測量鍍層厚度和電位差。
標準測試：依據 ASTM B764 - 04 和 DIN EN 16866 標準進行電位差測試。
電極處理：具備銀參比電極測量前的準備功能（生成必要的 AgCl 層）。
電流調節：電解電流可按需調整。
即時評估：能直接在測厚儀顯示器上對電位曲線進行評估。
生產與檢驗：適用于電鍍生產過程監控及成品進廠檢驗。
鍍層厚度測量：可精準測量多種金屬鍍層厚度，范圍在 0.05–50µm（因材料而異）。
鍍層體系覆蓋
多鍍層體系：例如鐵或塑料基體（ABS）上的鍍鉻 / 鎳 / 銅等多層鍍層。
雙鍍層體系：如銀或銅表面的鍍錫或鍍鎳。
單鍍層：像鐵上鍍鋅等。
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